Emisyon Spektroskopi; Cihazlar (instruments)

Emisyon spektroskopisi cihazları iki tiptir, aynı anda çok sayıda elementin analiz edildiği spektrofotometreler ve elementleri sıra ile analizleyen spektrofotometreler. Birinci gruptaki cihazlar çok sayıda elementin (50 veya 60 adet) emisyon hatlarını anında saptar ve ölçer. Sıra ile analiz yapan cihazlar ise elementi birer birer ve sıra ile analiz eder. Bunlarda her bir elementin sinyali saptandıktan sonra dalga boyu değişir. Tabii bu tip cihazlarla çok sayıda elementin analizi için gerekli toplam uyarma zamanı oldukça uzundur; bunlarda örnek ve zaman tüketimi daha fazladır.

Ark ve kıvılcım kaynaklarının kararlılığı düşük olduğundan aynı anda çok sayıda element analizine gereksinim vardır. Bu kaynaklarda tekrarlanabilir hat şiddetleri elde edilebilmesi için bir sinyalin en az 20 saniyelik (1 dak veya daha fazlası tercih edilir) kısmının ortalaması alınmalıdır. Bir kaç elementin analiz edilmesi gerektiğinde sıra ile analiz, zaman ve örnek tüketimi yönünden uygun değildir.

Aynı anda çok sayıda element analizi yapan cihazlar üç tiptir. Biri, dedektör ve integratör olarak bir fotograf filmi veya levhasının kullanıldığı bir spektrograftır. Bir diğeri, fotoelelktrik bir spektrofotometredir; bunda bir spektrofotometrenin merkez düzlemi üzerine uygun bir konumda yerleştirilmiş fotomultiplier tüpler (her element için) bulunur ve her dedektör için bir integrasyon devresi vardır. Üçüncü tip cihazlarda dedektör olarak bir vidican tüpü kullanılır.

Spektrograflar fazla pahalı cihazlar değildir. Oysa filmlerin veya levhalanın banyo ve baskısı zaman alıcı işlemlerdir ve fotoelektrik yöntemle kıyaslandığında tercih edilmezler. Fotoelektrikli çok element analizleyen spektrometrelerde bir kaç dakika içinde 20-30 elementin tayini yapılabilir. Bunlar bir element takımından diğerine pratik bir yöntemle adapte edilemezler, ancak belirli bir element takımının rutin analizinde kullanılabilirler.

Plazma kaynakları hat şiddetini bir-iki saniyede saptayabilecek kadar kararlıdır. Bu nedenle, sıra ile analiz yapan cihazlar anında analiz yapan cihazlara göre bazı üstünlüklere sahiptir. Bunlar fotoelektrikli, çok sayıda element analizleyen spektrometreler kadar süratli olmasa da, spektrograflardan daha hızlı, fotoelektrik dedektörlü spektrometrelerle ise aynı seviyededirler.


1. Spektrograflar

Fotoğrafik yöntemle anında ölçme yapılabilmesi için bir monokromatörün çıkış siliti bir fotoğraf filmi (veya levhası) ile değiştirilir. Emülsiyonun filmi çekilir ve tabedilir. Filmde koyulukları birbirinden farklı bir seri siyah hatlar gözlenir; bunların bulundukları yerlerle örnekteki maddelerin kalitatif analizleri, koyulukları (şiddetlerini belirtir) ile de her maddenin kantitatif analizi yapılır (Şekil-5).


Şekil-5: 3-4 metre gratingli bir spektrograf ile alınmış tipik bir spektra; (1) demir standardı, (2-5) kazein örnekleri, (6-8) Cd-Ge-arsenür örnekleri, (9-11) saf Cd, Ge ve As, (12) saf grafit elektrodu


2. Monokromatör Tipleri

Bir spektrografdaki dağıtıcı (dispersing) element bir prizma veya bir grating olabilir. Yüksek dağıtıcı özellikte prizmalı cihazlarda Litrow-levhalı bir monokromatör vardır; dağıtıcılığı daha düşük spektrograflarda Cornu-tip monokromatör kullanılır.

Prizmalı spektrograflarda doğrusal olmayan bir dağıtım gözlenir; bu durum hatların tanımını zorlaştırır ve daha yüksek dalga boylarındaki hatların bir araya gelerek kalabalık bir görünüm almalarına neden olur. Spektrograflarda en çok kullanılan gratingler yansıtıcı gratinlerdir. Bunlardan biri Şekil-6'da görülmektedir.

Emisyon analizlerinde en önemli bölge 2500-4000 A0 aralığındadır; tabii daha uzun ve daha kısa dalga boyları da kullanılabilir. Işının geçtiği optik malzemeler kuvartz veya ergitilmiş silika olmalı ve dedektör UV ışına karşı hassas olmalıdır.

Hartmann Diyaframı: Spektrograflarda "Hartmann diyaframı" denilen maskeleyici bir alet kullanılarak slitin dikey uzunluğunun sadece bir kısmı aydınlatılır (Şekil-7). Böyle bir diyafram ile tek bir film veya levha üzerine bir kaç spektra kaydedilebilir.


Şekil-6: Bir grating spektrograf için Eagle yerleşimi


Şekil-7: Bir hartmann diyaframı


Fotoğrafla Tespit: Fotoğrafik bir emülsiyon, bir spektral hattın şiddet-zaman integralinin değerlendirilmesinde bir dedektör, bir amplifier, ve bir integrasyon aleti görevi yapabilir. Emülsiyondaki gümüş halojen tanecikleri bir ışın fotonunu absorbladığı zaman ışın enerjisi görünmeyen bir şekilde depo edilir. Sonra indirgen bir madde ile reaksiyona sokulduğunda her biri foton absorblamış olan çok sayıda gümüş atomu oluşur; Bu işlem ışın absorpsiyonu olayının kimyasal olarak sabitleştirilmesidir; siyah gümüş taneciklerinin sayısı ve buna bağlı olarak ışın verilen alanın koyuluğu, E ile gösterilen "poz" ile orantılıdır:

E = Il t

Burada Il ışının şiddetini, t poz süresini gösterir. (Emisyon spektroskopisinde ışın şiddetinin p yerine I ile gösterilmesi eğilimi hakimdir. Bu iki terim arasındaki fark çok küçüktür ve pratikte birbirinin eşdeğeri olarak kabul edilebilir). Kantitatif amaçlı bir spektrum elde edilmesi için, t hem örnek ve hem de standartta sabit tutulur. Bu koşullarda poz (E) hat şiddeti ve tabii emisyon yapan taneciklerin konsantrasyonu ile doğru orantılı olur.

Bir fotoğraf levhası üzerindeki bir hattın koyuluk derecesi onun "optik yoğunluğu (D) olarak tarif edilir.

D = I0 / I

Burada I0 emülsiyonun poz verilmeyen kısmından geçen ışın demetinin şiddetini (gücünü), I ise hat standardından zayıflatılan ışının şiddetini gösterir. Optik yoğunluk ve absorbans arasındaki benzerlik dikkat çekicidir.

Bir hattın optik yoğunluğunu gerçek şiddete (veya poza) çevirmek için, optik yoğunluğun relatif pozun logaritmasına göre çizildiği deneysel bir kalibrasyon eğrisi kullanılır. Böyle bir eğri, bir fotoğraf levhasının (kısım kısım) sabit şiddetteki ışın ile farklı zaman süreçlerinde pozlandırılması ile hazırlanır;  çoğunlukla, kaynağın  mutlak şiddeti bilinmez, bu nedenle de Denklem(1) den sadece relatif pozlar hesaplanabilir.


Şekil-8: İki dalga boyu için hazırlanmış tipik levha kalibrasyon eğrileri


Şekil-8'de bir emülsiyonun iki dalga boyunda hazırlanmış olan kalibrasyon eğrileri görülmektedir. Bu tip eğrilerden yararlanılarak çeşitli analitik hatların ölçülen optik yoğunluklarından "relatif şiddetleri" bulunabilir. Kantitatif spektrografik analizlerde kullanılan relatif şiddetler konsantrasyona bağımlıdır.

Eğer bir spektrumda çok sayıda dalga boyu bölgesi bulunursa bir kaç kalibrasyon eğrisine gereksinim olur; çünkü her dalga boyu bölgesindeki eğim farklıdır.


3. Aynı Anda Çok Sayıda Element Analizi Yapan Spektrometreler

Rutin emülsiyon analizlerinde integre edilen hat şiddetleri fotoelektrik yöntemle saptanır. Bu amaçla geliştirilen cihazlarda çok sayıda (48'e kadar çıkar) fotomultiplier tüp vardır. Tüpler, spektrometrenin merkez eğrisi boyunca yer alan sabit silitlerin arkasında bulunur (Şekil-9). Her bir slitin konumu, saptanmak istenen hattın gerçek konumuna tam olarak uymalıdır.

Her fotomultiplierin çıkışı, 10-40 sn.lik periyodlarla çıkışı integre eden uygun bir kapasitör-direnç devresine bağlanmıştır. Pozlandırma sonundaki kapasitör voltajı, onun toplam yüküne bağlıdır, toplam yük ise dedektör akımının zaman ile çarpımına eşittir; yani voltaj, hat şiddeti zaman integralinin bir ölçüsüdür.

Fotoelektrikli çok sayıda element analizi yapan cihazlar çok otomatik, karmaşık yapılı, ve pahalıdırlar. Bunlarla sadece, cihaz imal edilirken belirlenen elementlerin analizi yapılabilir. Yine de hızlı ve rutin işlerde bu spektrometreler idealdir.


Şekil-9: Doğrudan okumalı bir gratingli spektrometrenin optik sistemi


Örneğin, alaşımların üretim kontrollerinde, 5-20, hatta daha fazla elementin beş dakika gibi kısa bir zaman içinde kantitatif analizleri yapılabilir; böylece son ürün bileşiminin yakından izlenmesi sağlanır.

Fotoelektrikli spektrometreler hızlı analiz yapabilmeleri yanında analitik hassasiyetleri de oldukça yüksek cihazlardır. ideal koşullarda tekrarlanabilirlik derecesi örnekteki madde miktarının % 1 i seviyesindedir.


4. Ardarda Analiz Eden Cihazlar

Pratikte kullanılan otomatik, ardarda emisyon analizi yapan cihazlarda, indüksiyonla birleştirilen plazma kaynağı kullanılır; bu kaynağın relatif kararlılığı ışık şiddeti ölçümlerini bir kaç sn. içinde tamamlayabilecek seviyededir. Bu cihazlar, daha önce incelenen otomatik alev emisyon cihazlarına benzerler.